Search
Now showing items 1-1 of 1
Минимизация температурной неравномерности поверхностиисследуемого образца при испытаниях эмиттеров катодов ЭРД
(ХАИ, 2013)
В статье приводится конструкция устройства для испытания эмиттеров катодов ЭРД в диодном
режиме. Представлена разработанная конечно-элементная модель испытательного устройства,
смоделировано тепловое состояние элементов ...