Вплив сукупностей двовимірних дефектів структури на структуру фотовідклику кристалів ZnSe та ZnSe: X(X=Te, Cu, Mg)

Abstract

Шляхом прямого та зворотного дискретного вейвлет-аналізу зображень травлених поверхонь {111} кристалів ZnSe:X (X=Te, Cu, Mg) та ZnSe виявлено різномасштабні угрупування дефектів структури, що формують структуру динамічного фотовідклику при комбінованому фотоелектрозбудженні.

Путем прямого и обратного дискретного вейвлет-анализа изображений пищеварительных поверхностей {111} кристаллов ZnSe:X (X=Te, Cu, Mg) и ZnSe обнаружены разномасштабные группировки дефектов структуры, формирующих структуру динамического фотоотклика при комбинированном фотоэлектровозбуждении.