Zur Kurzanzeige

dc.contributor.authorШматко, А.А.
dc.date.accessioned2023-01-19T08:42:07Z
dc.date.available2023-01-19T08:42:07Z
dc.date.issued2012
dc.identifier.citationШматко, А. А. Статистический анализ спекл-структур интерференционных образов шероховатой поверхности / А. А. Шматко // Радіоелектронні і комп'ютерні системи. – 2012. – № 4. – С. 130–133.uk_UA
dc.identifier.issn1814-4225
dc.identifier.urihttp://dspace.library.khai.edu/xmlui/handle/123456789/3837
dc.description.abstractРассмотрена задача анализа корреляционной функции спекл-структур интерференционных изображений, сформированных отраженным от шероховатой поверхности когерентным излучением, с применением методов статистического анализа пространственных случайных процессов. Установлены ее основные статистические характеристики, позволяющие определить размер спеклов, а также связь с эффективной поверхностью рассеяния, которая, в свою очередь, содержит информацию о параметрах шероховатости поверхности.uk_UA
dc.description.abstractРозглянуто завдання аналізу кореляційної функції спекл-структур інтерференційних зображень, сформованих відбитим від шорсткої поверхні когерентним випромінюванням із застосуванням методів статистичного аналізу просторових випадкових процесів. Встановлено її основні статистичні характеристики, що дозволяють визначити розмір спекул, а також зв'язок з ефективною поверхнею розсіювання, яка, у свою чергу, містить інформацію про параметри шорсткості поверхні.uk_UA
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherХАІuk_UA
dc.subjectрадиоэлектронные и компьютерные системыuk_UA
dc.subjectспеклuk_UA
dc.subjectшероховатая поверхностьuk_UA
dc.subjectспекл-интерферометрический методuk_UA
dc.subjectрадіоелектронні і комп'ютерні системиuk_UA
dc.subjectшорстка поверхняuk_UA
dc.subjectспекл-інтерферометричний методuk_UA
dc.titleСтатистический анализ спекл-структур интерференционных образов шероховатой поверхностиuk_UA
dc.typeArticleuk_UA


Dateien zu dieser Ressource

Thumbnail

Das Dokument erscheint in:

Zur Kurzanzeige