Показать сокращенную информацию

dc.contributor.authorОдарущенко, О.М.
dc.contributor.authorОдарущенко, О.Б.
dc.contributor.authorХарченко, В.С.
dc.date.accessioned2023-02-16T09:10:06Z
dc.date.available2023-02-16T09:10:06Z
dc.date.issued2019
dc.identifier.citationОдарущенко, О. М. Марковські моделі оцінювання функціональної безпеки програмно-технічних комплексів на самодіагностовних програмовних платформах з урахуванням помилок засобів контролю / О. М. Одарущенко, О. Б. Одарущенко, В. С. Харченко // Радіоелектронні і комп'ютерні системи. – 2019. – № 4. – С. 17–29.uk_UA
dc.identifier.issn1814-4225
dc.identifier.urihttp://dspace.library.khai.edu/xmlui/handle/123456789/4193
dc.description.abstractМетою статті є розроблення та аналіз результатів дослідження марковськіх моделей оцінювання надійності та функціональної безпеки програмно-технічних комплексів (ПТК), які розробляються на основі самодіагностовних програмовних платформ. Розроблено дерева відмов таких платформ і ПТК на їх основі.uk_UA
dc.description.abstractЦелью статьи является разработка и анализ результатов исследования марковских моделей оценки надежности и функциональной безопасности программно-технических комплексов (ПТК), разрабатываемых на основе самодиагностических программных платформ. Разработаны деревья отказов таких платформ и ПТК на их основе.uk_UA
dc.language.isoukuk_UA
dc.publisherХАІuk_UA
dc.subjectрадіоелектронні і комп'ютерні системиuk_UA
dc.subjectексплуатаціяuk_UA
dc.subjectаварійний захистuk_UA
dc.subjectфункціональна безпекаuk_UA
dc.subjectбагатофрагментна марковська модельuk_UA
dc.subjectрадиоэлектронные и компьютерные системыuk_UA
dc.subjectэксплуатацияuk_UA
dc.subjectаварийная защитаuk_UA
dc.subjectфункциональная безопасностьuk_UA
dc.subjectмногофрагментная марковская модельuk_UA
dc.titleМарковські моделі оцінювання функціональної безпеки програмно-технічних комплексів на самодіагностовних програмовних платформах з урахуванням помилок засобів контролюuk_UA
dc.typeArticleuk_UA


Файлы в этом документе

Thumbnail

Данный элемент включен в следующие коллекции

Показать сокращенную информацию