Оцінка ефективності виявлення неоднорідностей на зображенні за допомогою максимума біамплітуди

Abstract

Предметом вивчення в статті є аналіз ефективності нового методу виявлення неоднорідностей на цифровому зображенні за допомогою оцінювання біамплітуди інтенсивності пікселів. Метою є оцінка ефективності нового методу виявлення неоднорідностей на зображенні за допомогою максимуму біамплітуди у порівнянні з відомим методом на основі оцінки локального середньо квадратичного відхилення (СКВ) значень інтенсивності пікселів.

Предметом исследования в статье является анализ эффективности нового способа выявления неоднородностей на цифровом изображении посредством оценки биамплитуды интенсивности пикселей. Целью является оценка эффективности нового метода обнаружения неоднородностей на изображении с помощью максимума биамплитуды по сравнению с известным методом на основе оценки локального среднеквадратического отклонения значений интенсивности пикселей.