Show simple item record

Practical aspects of operating and analytical reliability assessment of FPGA-baced I&C systems

dc.contributor.authorBabeshko, E.
dc.contributor.authorKharchenko, V.
dc.contributor.authorLeontiiev, K.
dc.contributor.authorRuchkov, E.
dc.date.accessioned2023-02-17T08:27:41Z
dc.date.available2023-02-17T08:27:41Z
dc.date.issued2020
dc.identifier.citationPractical aspects of operating and analytical reliability assessment of FPGA-baced I&C systems / E. Babeshko, V. Kharchenko, K. Leontiiev, E. Ruchkov // Радіоелектронні і комп'ютерні системи. – 2020. – № 3. – P. 75–83.uk_UA
dc.identifier.issn1814-4225
dc.identifier.urihttp://dspace.library.khai.edu/xmlui/handle/123456789/4217
dc.description.abstractThe paper summarizes our experience in operating and analytical reliability assessment of FPGA based NPP I&Cs.uk_UA
dc.description.abstractСтаття узагальнює наш досвід з оцінки експлуатаційної та аналітичної надійності ІК АЕС на основі FPGA.uk_UA
dc.description.abstractВ статье обобщен наш опыт оценки эксплуатационной и аналитической надежности АСУ ТП АЭС на базе ПЛИС.uk_UA
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherХАІuk_UA
dc.subjectradio electronic and computer systemsuk_UA
dc.subjectreliability analysisuk_UA
dc.subjectreliability block diagramsuk_UA
dc.subjectfailure modesuk_UA
dc.subjecteffectsuk_UA
dc.subjectdiagnostics analysisuk_UA
dc.subjectаналіз надійностіuk_UA
dc.subjectблок-схеми надійностіuk_UA
dc.subjectвиди відмовuk_UA
dc.subjectнаслідкиuk_UA
dc.subjectаналіз діагностикиuk_UA
dc.subjectрадиоэлектронные и компьютерные системыuk_UA
dc.subjectанализ надежностиuk_UA
dc.subjectблок-схемы надежностиuk_UA
dc.subjectвиды отказовuk_UA
dc.subjectпоследствияuk_UA
dc.subjectдиагностический анализuk_UA
dc.titlePractical aspects of operating and analytical reliability assessment of FPGA-baced I&C systemsuk_UA
dc.typeArticleuk_UA


Files in this item

Thumbnail
Name:
Babeshko.pdf
Size:
593.1Kb
Format:
PDF
View/Open

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record