Synthesis of the optimal algorithm and structure of contactless optical device for estimating the parameters of statistically uneven surfaces
View/ Open
Date
2021Author
Shmatko, O.
Volosyuk, V.
Zhyla, S.
Pavlikov, V.
Ruzhentsev, N.
Tserne, E.
Popov, A.
Ostroumov, I.
Kuzmenko, N.
Dergachov, K.
Sushchenko, O.
Averyanova, Y.
Zaliskyi, M.
Solomentsev, O.
Havrylenko, O.
Kuznetsov, B.
Nikitina, T.
Metadata
Show full item recordAbstract
This work synthesizes the optimal algorithm and structure for analyzing the parameters of statistically-temporal surfaces based on spatio-temporal processing of optical speckle interference signals and images using modern methods of optimal synthesis of radio engineering and coherent optoelectronic systems. In this work, an algorithm for processing optical signals scattered by statistically uneven surfaces is synthesized and investigated for problems of optimal estimation of parameters and statistical characteristics of statistically uneven surfaces. У роботі синтезовано оптимальний алгоритм і структуру аналізу параметрів статистично-часових поверхонь на основі просторово-часової обробки оптичних спекл-інтерференційних сигналів і зображень із застосуванням сучасних методів оптимального синтезу радіотехнічних і когерентних оптоелектронних систем. У даній роботі синтезовано та досліджено алгоритм обробки оптичних сигналів, розсіяних статистично нерівними поверхнями, для задач оптимального оцінювання параметрів і статистичних характеристик статистично нерівних поверхонь. В данной работе синтезированы оптимальный алгоритм и структура анализа параметров статистически-временных поверхностей на основе пространственно-временной обработки оптических спекл-интерференционных сигналов и изображений с использованием современных методов оптимального синтеза радиотехнических и когерентных оптико-электронных систем. В данной работе синтезирован и исследован алгоритм обработки оптических сигналов, рассеянных статистически неровными поверхностями, для задач оптимального оценивания параметров и статистических характеристик статистически неровных поверхностей.