Zur Kurzanzeige

dc.contributor.authorНауменко, П.О.
dc.contributor.authorБычков, И.В.
dc.date.accessioned2023-02-23T10:35:25Z
dc.date.available2023-02-23T10:35:25Z
dc.date.issued2005
dc.identifier.citationНауменко, П. О. Применение эквидистантных областей для технологического контроля поверхностей общего вида / П. О. Науменко, И. В. Бычков // Открытые информационные и компьютерные интегрированные технологии : сб. науч. тр. : сб. науч. тр. – Харьков, 2005. – Вып. 29. – С. 5–10.uk_UA
dc.identifier.isbn966-662-099-5
dc.identifier.urihttp://dspace.library.khai.edu/xmlui/handle/123456789/4284
dc.description.abstractВ данной работе рассматривается применение эквидистантных областей допустимых размеров поверхностей общего вида в качестве аналитических контрольно-измерительных шаблонов.uk_UA
dc.description.abstractУ цій роботі розглядається застосування еквідистантних областей допустимих розмірів поверхонь загального виду як аналітичні контрольно-вимірювальні шаблони.uk_UA
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherХАИuk_UA
dc.subjectэквидистантные областиuk_UA
dc.subjectповерхностьuk_UA
dc.subjectизготовлениеuk_UA
dc.subjectтехнологический контрольuk_UA
dc.subjectфрезерный станокuk_UA
dc.subjectеквідистантні областіuk_UA
dc.subjectповерхняuk_UA
dc.subjectвиготовленняuk_UA
dc.subjectтехнологічний контрольuk_UA
dc.subjectфрезерний верстатuk_UA
dc.titleПрименение эквидистантных областей для технологического контроля поверхностей общего видаuk_UA
dc.typeArticleuk_UA


Dateien zu dieser Ressource

Thumbnail

Das Dokument erscheint in:

Zur Kurzanzeige