• українська
    • English
    • русский
    • Deutsch
Institutional Digital Repository of National Aerospace University KHAI
  • русский 
    • українська
    • English
    • русский
    • Deutsch
  • Войти
Просмотр элемента 
  •   Главная
  • Факультет ракетно-космічної техніки (№ 4)
  • Наукові праці
  • Статті з наукових журналів та збірок
  • Просмотр элемента
  •   Главная
  • Факультет ракетно-космічної техніки (№ 4)
  • Наукові праці
  • Статті з наукових журналів та збірок
  • Просмотр элемента
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Energy depozition and sufrace analysis of the SPT20-M17 hall effect thruster

Thumbnail
Открыть
LoyanEng.pdf (235.5Kb)
Дата
2010
Автор
Loyan, А.
Kosselev, N.
Maksymenko, T.
Pellerin, N.
Veron, E.
Pellerin, S.
Gibert, T.
Balika, L.
Gafari, F.
Lefevre, J-B.
Dudeck, M.
Metadata
Показать полную информацию
Аннотации
As a way to analyse the plasma-wall interaction, the electron energy deposition has been calculated at different points of the ceramics delimiting the plasma discharge of a Hall effect thrusters. The calculation takes into account the potential sheath but without secondary electron emission. The energy deposed by the ions is commented. The visible surfaces by the plasma of the SPT20-M (KhAI) ceramic have been analyzed at CEMHTI (CNRS Orléans) by GSEM (Gaseous Scanning Electron Microscope) and by EDX (Energy Dispersive X-ray) spectrometry. A large microstructural change is observed in the channel, with regions exhibiting erosion or deposit phenomena.
 
Для анализа воздействия плазмы на стенки разрядного канала (РК) СПД была рассчитана энергия электронов, приходящаяся на разные точки керамики в границах разряда с учетом пристеночного потенциала, однако без учета вторичной электронной эмиссии. Описана энергия ионов, приходящаяся на стенки РК. Поверхность РК СПД-20М («ХАИ») была проанализирована в CEMHTI (CNRS Орлеан) при помощи газового сканирующего электронного микроскопа и при помощи энергорассеивающей рентгеновской спектрометрии. Отмечены значительные изменения микроструктуры канала с эродироваными и запыленными участками.
 
Для аналізу впливу плазми на стінки розрядного каналу (РК) СПД було розраховано енергію електронів, що приходиться різні точки кераміки в межах розряду з врахуванням пристінкового потенціалу, але без врахування вторинної електронної емісії. Описано енергію іонів що приходиться на стінки РК. Поверхня РК СПД-20М («ХАІ») була проаналізована у CEMHTI (CNRS Орлеан) за допомогою газового скануючого електронного мікроскопа та за допомогою енергорозсіювачої рентгенівської спектрометрії. Відмічено значні зміни мікроструктури каналу з еродованими та запиленими ділянками.
 
URI
http://dspace.library.khai.edu/xmlui/handle/123456789/1927
Collections
  • Статті з наукових журналів та збірок

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Контакты | Отправить отзыв
Theme by 
Atmire NV
 

 

Просмотр

Весь DSpaceСообщества и коллекцииДата публикацииАвторыНазванияТематикаЭта коллекцияДата публикацииАвторыНазванияТематика

Моя учетная запись

ВойтиРегистрация

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Контакты | Отправить отзыв
Theme by 
Atmire NV