Минимизация неоднородности электрического поля при испытаниях эмиттеров катодов ЭРД
Аннотации
В данной работе представлены результаты численного моделирования распределения напряженности
электрического поля (ЭП) по поверхности эмиттера при его испытаниях. В программном продукте
Ansys 11 была реализована конечно-элементная модель устройства для исследования эмиссионных
свойств. Проведенные расчеты показали, что форма и размеры элементов узла «анод - эмиттер» в
устройстве по исследованию эмиссионных свойств могут вносить значительную неоднородность в
распределение ЭП. Были проанализированы результаты расчетов и даны рекомендации, позволяющие
минимизировать неоднородность ЕП. У даній роботі представлені результати чисельного моделювання розподілу напруженості електричного
поля (ЕП) по поверхні емітера при його випробуваннях. У програмному продукті Ansys 11 була реалізована
кінцево-елементна модель пристрою для дослідження емісійних властивостей. Проведені розрахунки показали, що форма і розміри елементів вузла «анод - емітер» у пристрої з дослідження емісійних властивостей
можуть вносити значну неоднорідність у розподіл ЕП. Були проаналізовані результати розрахунків і дані
рекомендації, що дозволяють мінімізувати неоднорідність ЄП.