Минимизация неоднородности электрического поля при испытаниях эмиттеров катодов ЭРД

Abstract

В данной работе представлены результаты численного моделирования распределения напряженности электрического поля (ЭП) по поверхности эмиттера при его испытаниях. В программном продукте Ansys 11 была реализована конечно-элементная модель устройства для исследования эмиссионных свойств. Проведенные расчеты показали, что форма и размеры элементов узла «анод - эмиттер» в устройстве по исследованию эмиссионных свойств могут вносить значительную неоднородность в распределение ЭП. Были проанализированы результаты расчетов и даны рекомендации, позволяющие минимизировать неоднородность ЕП.

У даній роботі представлені результати чисельного моделювання розподілу напруженості електричного поля (ЕП) по поверхні емітера при його випробуваннях. У програмному продукті Ansys 11 була реалізована кінцево-елементна модель пристрою для дослідження емісійних властивостей. Проведені розрахунки показали, що форма і розміри елементів вузла «анод - емітер» у пристрої з дослідження емісійних властивостей можуть вносити значну неоднорідність у розподіл ЕП. Були проаналізовані результати розрахунків і дані рекомендації, що дозволяють мінімізувати неоднорідність ЄП.