Минимизация температурной неравномерности поверхностиисследуемого образца при испытаниях эмиттеров катодов ЭРД

Abstract

В статье приводится конструкция устройства для испытания эмиттеров катодов ЭРД в диодном режиме. Представлена разработанная конечно-элементная модель испытательного устройства, смоделировано тепловое состояние элементов конструкции в номинальном рабочем режиме. Показано, что при испытаниях эмиттеров имеется значительная температурная неоднородность эмиссионной поверхности образца, которая вносит дополнительную погрешность в результаты измерений и расчётов эмиссионных свойств материала. Результаты моделирования выявили неравномерность температуры эмитирующей поверхности в 10-12°К, что приводит к росту неравномерности по плотности эмиссионного тока до 40-50 %.

У статті наводиться конструкція пристрою для випробування емітерів катодів ЕРД в діодному режимі. Представлена розроблена кінцево-елементна модель випробувального пристрою, змодельовано тепловий стан елементів конструкції в номінальному робочому режимі. Показано, що при випробуваннях емітерів є значна температурна неоднорідність емісійної поверхні зразка, яка вносить додаткову похибку у результати вимірювань і розрахунків емісійних властивостей матеріалу. Результати моделювання виявили нерівномірність температури емісійної поверхні у 10-12°К, що призводить до зростання нерівномірності густини емісійного току до 40-50 %.