Определение функциональной пригодности кристаллов CdZnTe для применения в радиоэлектронной аппаратуре на основе метода сканирующей фотодиэлектрической спектроскопии
Аннотации
Предложен новый метод определения функциональной пригодности кристаллов CdZnTe для применения в радиоэлектронной аппаратуре на основе метода сканирующей фотодиэлектрической спектроскопии. Запропоновано новий метод визначення функціональної придатності кристалів CdZnTe для застосування в радіоелектронній апаратурі на основі методу фотодіелектричної спектроскопії, що сканує.