Zur Kurzanzeige

dc.contributor.authorСергиенко, В.В.
dc.contributor.authorКонорев, Б.М.
dc.contributor.authorНовы, Л.
dc.contributor.authorЧертков, Г.Н.
dc.date.accessioned2022-12-15T11:40:13Z
dc.date.available2022-12-15T11:40:13Z
dc.date.issued2008
dc.identifier.citationКалибровка методов измерения инвариантов критического программного обеспечения: профиль инъектируемых тестовых дефектов / В. В. Сергиенко, Б. М. Конорев, Л. Новы, Г. Н. Чертков // Радіоелектронні і комп'ютерні системи. – 2008. – № 5. – С. 161–167.uk_UA
dc.identifier.issn1814-4225
dc.identifier.urihttp://dspace.library.khai.edu/xmlui/handle/123456789/3297
dc.description.abstractИнформативность испытаний и подтверждение приемлемых уровней вероятности скрытых дефектов при независимой верификации критического программного обеспечения обеспечивается с помощью адекватного профиля дефектов и калибровок методов, используемых при испытаниях. Рассматривается разработка модели профиля дефектов для калибровки методов измерения инвариантов при статическом анализе.uk_UA
dc.description.abstractІнформативність випробувань та підтвердження прийнятних рівнів ймовірності прихованих дефектів при незалежній верифікації критичного програмного забезпечення забезпечується за допомогою адекватного профілю дефектів та калібрування методів, що використовуються при випробуваннях. Розглядається розробка моделі профілю дефектів калібрування методів вимірювання інваріантів при статичному аналізі.uk_UA
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherХАІuk_UA
dc.subjectрадиоэлектронные и компьютерные системыuk_UA
dc.subjectпрограммное обеспечениеuk_UA
dc.subjectнезависимая верификацияuk_UA
dc.subjectстатический анализuk_UA
dc.subjectинвариантuk_UA
dc.subjectкалибровкаuk_UA
dc.subjectскрытый дефектuk_UA
dc.subjectрадіоелектронні і комп'ютерні системиuk_UA
dc.subjectпрограмне забезпеченняuk_UA
dc.subjectнезалежна верифікаціяuk_UA
dc.subjectстатичний аналізuk_UA
dc.subjectінваріантuk_UA
dc.subjectкалібруванняuk_UA
dc.subjectприхований дефектuk_UA
dc.titleКалибровка методов измерения инвариантов критического программного обеспечения: профиль инъектируемых тестовых дефектовuk_UA
dc.typeArticleuk_UA


Dateien zu dieser Ressource

Thumbnail

Das Dokument erscheint in:

Zur Kurzanzeige