• українська
    • English
    • русский
    • Deutsch
Institutional Digital Repository of National Aerospace University KHAI
  • русский 
    • українська
    • English
    • русский
    • Deutsch
  • Войти
Просмотр элемента 
  •   Главная
  • Факультет радіоелектроніки, комп’ютерних систем та інфокомунікацій (№ 5)
  • Наукові праці
  • Статті з наукових журналів та збірок
  • Просмотр элемента
  •   Главная
  • Факультет радіоелектроніки, комп’ютерних систем та інфокомунікацій (№ 5)
  • Наукові праці
  • Статті з наукових журналів та збірок
  • Просмотр элемента
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Обнаружение текстурных участков SVM-классификатором на изображениях при наличии помех

Thumbnail
Открыть
Krivenko.pdf (1.782Mb)
Дата
2015
Автор
Кривенко, С.С.
Науменко, А.В.
Лукин, В.В.
Metadata
Показать полную информацию
Аннотации
Рассмотрена возможность применения SVM-классификатора для обнаружения текстурных участков на изображениях, на которых присутствует достаточно интенсивный аддитивный шум. Показано, что эффективность такого классификатора зависит от количества входных признаков и размера блока, в которых эти признаки вычисляются.
 
Розглянуто можливість застосування SVM-класифікатора для виявлення текстурних ділянок на зображеннях, на яких є достатньо інтенсивний адитивний шум. Показано, що ефективність такого класифікатора залежить кількості вхідних ознак і розміру блоку, у яких ці ознаки обчислюються.
 
URI
http://dspace.library.khai.edu/xmlui/handle/123456789/4019
Collections
  • Статті з наукових журналів та збірок

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Контакты | Отправить отзыв
Theme by 
Atmire NV
 

 

Просмотр

Весь DSpaceСообщества и коллекцииДата публикацииАвторыНазванияТематикаЭта коллекцияДата публикацииАвторыНазванияТематика

Моя учетная запись

ВойтиРегистрация

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Контакты | Отправить отзыв
Theme by 
Atmire NV