Show simple item record

dc.contributor.authorСысоев, Ю.А.
dc.contributor.authorКостюк, Г.И.
dc.contributor.authorБелявский, А.В.
dc.contributor.authorСысоев, А.Ю.
dc.contributor.authorВоропай, Р.В.
dc.contributor.authorБреус, А.А.
dc.date.accessioned2024-05-13T09:06:28Z
dc.date.available2024-05-13T09:06:28Z
dc.date.issued2010
dc.identifier.citationПодавление микродуг в ионно-плазменных процессах / Ю. А. Сысоев, Г. И. Костюк, А. В. Белявский [и др.] // Вопросы проектирования и производства конструкций летательных аппаратов : сб. науч. тр. / Нац. аэрокосм. ун-т им. Н. Е. Жуковского «Харьков. авиац. ин-т». – Харьков, 2010. – Вып. 3(63). – С. 304–310.uk_UA
dc.identifier.issn1818-8052
dc.identifier.urihttp://dspace.library.khai.edu/xmlui/handle/123456789/7087
dc.description.abstractВыявлены две основные задачи, решение которых необходимо для эффективного подавления микродуг в ионно-плазменных процессах. С помощью разработанной методики обработки ЭОП-грамм импульсного разряда в пусковом плазменном инжекторе определены скорости перемещения катодных пятен 1-го типа, которые для данных условий эксперимента лежат в интервале 110 ÷ 190 м/с. Оценено влияние энергии, запасаемой в питающей линии, на время существования дугового разряда после отключения блока питания ионной очистки. Предложен способ устранения этого влияния путем введения дополнительного коммутирующего элемента. С использованием данного метода выполнена модернизация высоковольтного блока на базе современных коммутирующих элементов, что позволило повысить качество обработки изделий.uk_UA
dc.description.abstractВиявлено два основні завдання, рішення яких потрібне для ефективного пригнічення мікродуг в іонно-плазмових процесах. За допомогою розробленої методики обробки ЭОП-грамм імпульсного розряду в пусковому плазмовому інжекторі, визначені швидкості переміщення катодних плям 1-го типу, які для цих умов експерименту лежать в інтервалі 110 ÷ 190 м/с. Оцінений вплив енергії, що запасається в живлячій лінії, на час існування дугового розряду після відключення блоку живлення іонного очищення. Запропонований спосіб усунення цього впливу шляхом введення додаткового. З використанням цього методу виконана модернізація високовольтного блоку на базі сучасних комутуючих елементів, що дозволило підвищити якість обробки.uk_UA
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherХАИuk_UA
dc.subjectмикродугаuk_UA
dc.subjectкоммутирующий элементuk_UA
dc.subjectмікродугаuk_UA
dc.subjectкомутуючий елементuk_UA
dc.titleПодавление микродуг в ионно-плазменных процессахuk_UA
dc.typeArticleuk_UA


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record