Основи проєктування засобів вимірювальної техніки
Abstract
Розглянуто основні поняття, термінологію, етапи й види процесу проєктування, а також найбільш поширені види критеріїв, що застосовуються під час проєктування. Наведено основні поняття оптимізації, алгоритми оптимізаціїї та їх застосування. Описано математичні моделі, їх властивості, класифікацію та застосування.
Для студентів, які навчаються за спеціальностями 175 «Методологія та інформаційно-вимірювальна техніка» і 176 «Мікро- та наносистемна техніка».