Optical emission spectroscopy measurements on a SPT-20 hall effect thruster on the RHAI ground test facility
![Thumbnail](/xmlui/bitstream/handle/123456789/1472/homepageImage_en_US.jpg?sequence=3&isAllowed=y)
Открыть
Дата
2006Автор
Pagnon, D.
Pellerin, S.
Dudeck, M.
Maksimenko, T.A.
Koshelev, N.N.
Loyan, A.V.
Metadata
Показать полную информациюАннотации
The plasma plume of a SPT-20 has been analysed by Optical Emission Spectroscopy in order to analyse the emission of XeI, XeII and Al I emitted from the Al2O2 ceramic walls. Плазменный шлейф SPT-20 был проанализирован с помощью оптической эмиссионной спектроскопии для анализа излучения XeI, XeII и Al I, испускаемого керамическими стенками Al2O2. Плазмовий шлейф SPT-20 був проаналізований за допомогою оптичної емісійної спектроскопії для аналізу випромінювання XeI, XeII та Al I, що випускається керамічними стінками Al2O2.