Показать сокращенную информацию
Минимизация температурной неравномерности поверхностиисследуемого образца при испытаниях эмиттеров катодов ЭРД
dc.contributor.author | Цаглов, А.И. | |
dc.contributor.author | Лоян, А.В. | |
dc.contributor.author | Солонинко, Е.П. | |
dc.date.accessioned | 2022-10-11T11:28:02Z | |
dc.date.available | 2022-10-11T11:28:02Z | |
dc.date.issued | 2013 | |
dc.identifier.citation | Цаглов, А. И. Минимизация температурной неравномерности поверхностиисследуемого образца при испытаниях эмиттеров катодов ЭРД / А. И. Цаглов, А. В. Лоян, E. П. Солонинко // Авиационно-космическая техника и технология. – Харьков : ХАИ, 2013. – № 9(106). – С. 258–261. | uk_UA |
dc.identifier.issn | 1727-7337 | |
dc.identifier.uri | http://dspace.library.khai.edu/xmlui/handle/123456789/2247 | |
dc.description.abstract | В статье приводится конструкция устройства для испытания эмиттеров катодов ЭРД в диодном режиме. Представлена разработанная конечно-элементная модель испытательного устройства, смоделировано тепловое состояние элементов конструкции в номинальном рабочем режиме. Показано, что при испытаниях эмиттеров имеется значительная температурная неоднородность эмиссионной поверхности образца, которая вносит дополнительную погрешность в результаты измерений и расчётов эмиссионных свойств материала. Результаты моделирования выявили неравномерность температуры эмитирующей поверхности в 10-12°К, что приводит к росту неравномерности по плотности эмиссионного тока до 40-50 %. | uk_UA |
dc.description.abstract | У статті наводиться конструкція пристрою для випробування емітерів катодів ЕРД в діодному режимі. Представлена розроблена кінцево-елементна модель випробувального пристрою, змодельовано тепловий стан елементів конструкції в номінальному робочому режимі. Показано, що при випробуваннях емітерів є значна температурна неоднорідність емісійної поверхні зразка, яка вносить додаткову похибку у результати вимірювань і розрахунків емісійних властивостей матеріалу. Результати моделювання виявили нерівномірність температури емісійної поверхні у 10-12°К, що призводить до зростання нерівномірності густини емісійного току до 40-50 %. | uk_UA |
dc.language.iso | ru | uk_UA |
dc.publisher | ХАИ | uk_UA |
dc.subject | авиационно-космическая техника и технология | uk_UA |
dc.subject | безнакальный полый катод | uk_UA |
dc.subject | конечно-элементная модель | uk_UA |
dc.subject | эмиттер | uk_UA |
dc.subject | авіаційно-космічна техніка і технологія | uk_UA |
dc.subject | безнакальний порожнистий катод | uk_UA |
dc.subject | кінцево-елементна модель | uk_UA |
dc.subject | емітер | uk_UA |
dc.title | Минимизация температурной неравномерности поверхностиисследуемого образца при испытаниях эмиттеров катодов ЭРД | uk_UA |
dc.type | Article | uk_UA |