Параметры катодных и анодных пятен в технологических плазменных устройствах (эксперимент)
Abstract
Представлены методики и результаты исследования времени жизни и плотности тока,
скорости перемещения катодных и анодных пятен на основе расшифровки ЭОП-грамм,
полученных с применением лупы времени ЛВ-04. Наведено методики та результати дослідження терміну життя, густини
струму, швидкості переміщення катодних та анодних плям на основі
розшифрування ЕОП-грам, отриманих за допомогою лупи часу ЛП-04.