Show simple item record

dc.contributor.authorКостюк, Г.И.
dc.contributor.authorШирокий, Ю.В.
dc.contributor.authorКостюк, А.Н.
dc.contributor.authorЛеонова, И.В.
dc.date.accessioned2023-04-24T08:26:44Z
dc.date.available2023-04-24T08:26:44Z
dc.date.issued2013
dc.identifier.citationПараметры катодных и анодных пятен в технологических плазменных устройствах (эксперимент) / Г. И. Костюк, Ю. В. Широкий, А. Н. Костюк, И. В. Леонова // Открытые информационные и компьютерные интегрированные технологии : сб. науч. тр. – Харьков, 2013. – Вып. 60. – С. 155–164.uk_UA
dc.identifier.issn2071-1077
dc.identifier.urihttp://dspace.library.khai.edu/xmlui/handle/123456789/4837
dc.description.abstractПредставлены методики и результаты исследования времени жизни и плотности тока, скорости перемещения катодных и анодных пятен на основе расшифровки ЭОП-грамм, полученных с применением лупы времени ЛВ-04.uk_UA
dc.description.abstractНаведено методики та результати дослідження терміну життя, густини струму, швидкості переміщення катодних та анодних плям на основі розшифрування ЕОП-грам, отриманих за допомогою лупи часу ЛП-04.uk_UA
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherХАИuk_UA
dc.subjectэлектродное пятноuk_UA
dc.subjectплотность токаuk_UA
dc.subjectелектродна плямаuk_UA
dc.subjectщільність струмуuk_UA
dc.titleПараметры катодных и анодных пятен в технологических плазменных устройствах (эксперимент)uk_UA
dc.typeArticleuk_UA


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record